Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/2445/10826
Title: Electronic structure and screening dynamics of ethene on single domain Si(001) from resonant inelastic X-ray scattering.
Author: Fhlisch, A.
Hennies, F.
Wurth, W.
Witkowski, N.
Nagasono, M.
Piancastelli, M. N.
Moskaleva, L. V.
Neyman, Konstantin M.
Rösch, Notker
Keywords: Superfícies (Física)
Estructura electrònica
Propietats òptiques
Electronic structure
Optical properties
Superfícies (Física)
Issue Date: 2004
Publisher: The American Physical Society
Note: Reproducció digital del document publicat en format paper, proporcionada per PROLA i http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.69.153408
It is part of: Physical Review B, 2004, vol. 69, núm. 15, p. 153408-1-153408-4
URI: http://hdl.handle.net/2445/10826
ISSN: 0163-1829
Appears in Collections:Articles publicats en revistes (Ciència dels Materials i Química Física)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
530290.pdf283.34 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.