Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/2445/15403
Title: Fabricación de sondas de AFM específicas para medidas de impedancia eléctrica a la nanoescala
Author: Rebolledo Ceballos, Liceth M.
Director: Gomila Lluch, Gabriel
Keywords: Microscòpia de força atòmica
Impedància (Electricitat)
Tesis de màster
Atomic force microscopy
Impedance (Electricity)
Masters theses
Issue Date: 17-Jan-2011
Abstract: El objetivo de este proyecto es la fabricación de sondas para Microscopía de Fuerzas Atómicas específicas, para su uso en la medición de impedancia eléctrica a la nanoescala, aportando un mínimo de contribuciones parásitas a la medición. Para su consecución se plantea el desarrollo de dos metodologías diferentes: Simulación, diseño y fabricación de sondas específicas: se simula la contribución capacitiva la sonda; diseñando y fabricando las sondas específicas con base a los datos resultantes del cálculo. Modificación de sondas comerciales: Desarrollo de la prueba de concepto, por medio de generación de un aislamiento y apantallamiento, lo cual provoca la reducción de la capacitancia aportada por las sondas comerciales.
Note: Màster Oficial en Enginyeria Biomèdica
URI: http://hdl.handle.net/2445/15403
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