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http://hdl.handle.net/2445/15403| Title: | Fabricación de sondas de AFM específicas para medidas de impedancia eléctrica a la nanoescala |
| Author: | Rebolledo Ceballos, Liceth M. |
| Director/Tutor: | Gomila Lluch, Gabriel |
| Keywords: | Microscòpia de força atòmica Impedància (Electricitat) Treballs de fi de màster Atomic force microscopy Impedance (Electricity) Master's theses |
| Issue Date: | 17-Jan-2011 |
| Abstract: | El objetivo de este proyecto es la fabricación de sondas para Microscopía de Fuerzas Atómicas específicas, para su uso en la medición de impedancia eléctrica a la nanoescala, aportando un mínimo de contribuciones parásitas a la medición. Para su consecución se plantea el desarrollo de dos metodologías diferentes: Simulación, diseño y fabricación de sondas específicas: se simula la contribución capacitiva la sonda; diseñando y fabricando las sondas específicas con base a los datos resultantes del cálculo. Modificación de sondas comerciales: Desarrollo de la prueba de concepto, por medio de generación de un aislamiento y apantallamiento, lo cual provoca la reducción de la capacitancia aportada por las sondas comerciales. |
| Note: | Màster Oficial en Enginyeria Biomèdica |
| URI: | http://hdl.handle.net/2445/15403 |
| Appears in Collections: | Màster Oficial - Enginyeria Biomèdica |
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