Tesis Doctorals - Departament - Física Aplicada i Electrònica Collection home page

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1995Caracterización estructural por microscopia electrónica de transmisión de capas de arseniuro de galio epitaxiadas sobre sustratos de silicioVilà i Arbonès, Anna
1993Modificaciones estructurales en el óxido de silicio térmico inducidas por los procesos tecnológicos en microelectrónica: aplicación de la espectroscopía infrarrojaGarrido Fernández, Blas
3-Sep-1993Caracterización por microscopía electrónica de transmisión de heteroestructuras InGaAs/InAIAs crecidas por epitaxia de haces moleculares sobre substratos de InPPeiró Martínez, Francisca
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