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http://hdl.handle.net/2445/18191| Title: | Sistema automático para determinar estructuras cristalinas por difracción de rayos-X |
| Author: | Solans, Xavier, 1949-2007 Miravitlles Torras, Carles |
| Keywords: | Estructura cristal·lina (Sòlids) Raigs X Radiocristal·lografia Layer structure (Solids) X-rays X-ray crystallography |
| Issue Date: | 1978 |
| Publisher: | Universitat de Barcelona (UB). Institut de Cièncias de la Terra Jaume Almera (ICTJA) |
| Abstract: | Se desarrolla en este trabajo un sistema de calculo para la determinación de estructuras cristalinas por difracción de rayos-X. Las caracteristicas de este sistema son: Incorporar los métodos y las técnicas más recientes. Obtener la máxima velocidad de ejecución posible. Obtener la total automatización del proceso. Y conseguir la mínima ocupacion de memoria posible. |
| Note: | Reproducció del document publicat a http://www.raco.cat/index.php/ActaGeologica/article/view/74956 |
| It is part of: | Acta Geologica Hispanica, 1978, vol. 13, núm. 3, p. 93-96 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2445/18191 |
| ISSN: | 0567-7505 |
| Appears in Collections: | Articles publicats en revistes (Mineralogia, Petrologia i Geologia Aplicada) |
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