El CRAI romandrà tancat del 24 de desembre de 2025 al 6 de gener de 2026. La validació de documents es reprendrà a partir del 7 de gener de 2026.
El CRAI permanecerá cerrado del 24 de diciembre de 2025 al 6 de enero de 2026. La validación de documentos se reanudará a partir del 7 de enero de 2026.
From 2025-12-24 to 2026-01-06, the CRAI remain closed and the documents will be validated from 2026-01-07.
 
Carregant...
Miniatura

Tipus de document

Part del llibre

Versió

Versió publicada

Data de publicació

Tots els drets reservats

Si us plau utilitzeu sempre aquest identificador per citar o enllaçar aquest document: https://hdl.handle.net/2445/32162

Atomic force microscopy: probing the nanoworld

Títol de la revista

Director/Tutor

ISSN de la revista

Títol del volum

Resum

Atomic Force Microscope and related techniques have played a key role in the development of the nanotechnology revolution that is taking place in science. This paper reviews the basic principles behind the technique and its different operation modes and applications, pointing out research works performed in the Nanometric Techniques Unit of the CCiTUB in order to exemplify the vast array of capabilities of these instruments.

Descripció

Podeu consultar el llibre complet a: http://hdl.handle.net/2445/32166

Citació

Citació

ONCINS MARCO, Gerard, DÍAZ MARCOS, Jordi. Atomic force microscopy: probing the nanoworld. _Capítol del llibre: Handbook of instrumental techniques for materials_. chemical and biosciences research. Vol. Universitat de Barcelona, núm. Barcelona, pàgs. Part I. [consulta: 6 de gener de 2026]. [Disponible a: https://hdl.handle.net/2445/32162]

Exportar metadades

JSON - METS

Compartir registre