1. Dipòsit Digital de la Universitat de Barcelona
  2. Recerca
  3. Centres Científics i Tecnològics de la Universitat de Barcelona (CCiTUB)
  4. Llibres / Capítols de llibre (Centres Científics i Tecnològics de la Universitat de Barcelona (CCiTUB))
Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/2445/32162
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorOncins Marco, Gerard-
dc.contributor.authorDíaz Marcos, Jordi-
dc.date.accessioned2012-10-01T08:20:05Z-
dc.date.available2012-10-01T08:20:05Z-
dc.date.issued2012-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2445/32162-
dc.descriptionPodeu consultar el llibre complet a: http://hdl.handle.net/2445/32166-
dc.description.abstractAtomic Force Microscope and related techniques have played a key role in the development of the nanotechnology revolution that is taking place in science. This paper reviews the basic principles behind the technique and its different operation modes and applications, pointing out research works performed in the Nanometric Techniques Unit of the CCiTUB in order to exemplify the vast array of capabilities of these instruments.eng
dc.format.extent10 p.-
dc.format.mimetypeapplication/pdf-
dc.language.isoengeng
dc.publisherCentres Científics i Tecnològics. Universitat de Barcelonacat
dc.relation.isformatofReproducció del document original-
dc.relation.ispartofCapítol del llibre: Handbook of instrumental techniques for materials, chemical and biosciences research, Centres Científics i Tecnològics. Universitat de Barcelona, Barcelona, 2012. Part I. Materials technologies (MT), MT.7, 10 p.-
dc.relation.urihttp://hdl.handle.net/2445/32166-
dc.rights(c) Universitat de Barcelona, 2012-
dc.sourceLlibres / Capítols de llibre (Centres Científics i Tecnològics de la Universitat de Barcelona (CCiTUB))-
dc.subject.classificationMicroscòpia de força atòmicacat
dc.subject.classificationNanotecnologiacat
dc.subject.classificationAnàlisi instrumentalcat
dc.subject.otherAtomic force microscopyeng
dc.subject.otherNanotechnologyeng
dc.subject.otherInstrumental analysiseng
dc.titleAtomic force microscopy: probing the nanoworldeng
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/bookParteng
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersion-
dc.rights.accessRightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesseng
Appears in Collections:Llibres / Capítols de llibre (Centres Científics i Tecnològics de la Universitat de Barcelona (CCiTUB))

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
MT07 - Atomic Force Microscopy_ed2.pdf2.57 MBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.