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| Issue Date | Title | Author(s) |
|---|---|---|
| 2-Sep-1999 | Métodos iterativos de reconstrucción tomográfica en SPECT | Falcon Falcon, Carles Maria |
| 19-Jul-1993 | Espectrometría de masas de iones secundarios: aportaciones a la técnica y caracterización de capas finas de a-C:H y de a-Si:H | López Fernández, Francisco |
| 25-Jun-1998 | Correlador óptico para el reconocimiento de objetos basado en las propiedades de modulación de los dispositivos de cristal líquido | Martín Badosa, Estela |
| 18-Dec-1991 | Caracterización óptica de capas finas de carbono amorfo hidrogenado mediante elipsometría espectroscópica | Pascual Miralles, Esther |
| 21-Jul-1998 | Electron-induced x-ray emission from solids. Simulation and measurements | Llovet Ximenes, Xavier |
| 25-Apr-1994 | Células solares de silicio amorfo: obtención, caracterización y modelización | Asensi López, José Miguel |
| 25-Mar-1993 | Estructures multicapes basades en el silici amorf i els seus aliatges amb carboni | Bertomeu i Balagueró, Joan |
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