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Issue Date | Title | Author(s) |
---|---|---|
18-Dec-1991 | Caracterización óptica de capas finas de carbono amorfo hidrogenado mediante elipsometría espectroscópica | Pascual Miralles, Esther |
19-Jul-1993 | Espectrometría de masas de iones secundarios: aportaciones a la técnica y caracterización de capas finas de a-C:H y de a-Si:H | López Fernández, Francisco |
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