Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/2445/96862
Title: Microscòpia de força atòmica i les seves aplicacions (Seminaris Tecnològics 2013)
Author: Borrell Hernández, Jordi
Keywords: Microscòpia de força atòmica
Seminaris
Atomic force microscopy
Seminars
Issue Date: 8-May-2013
Publisher: Universitat de Barcelona. Facultat de Farmàcia
It is part of: Seminaris Tecnològics de Facultat de Farmàcia 2013 (Seminari 2)
URI: http://hdl.handle.net/2445/96862
Appears in Collections:Comunicacions a congressos (Farmàcia, Tecnologia Farmacèutica i Fisicoquímica)
Seminaris Tecnològics (Facultat de Farmàcia)
Comunicacions a congressos (Institut de Nanociència i Nanotecnologia (IN2UB))

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Seminari Tec2_Borrell.pdf6.34 MBAdobe PDFView/Open


This item is licensed under a Creative Commons License Creative Commons