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| Issue Date | Title | Author(s) |
|---|---|---|
| 1995 | Caracterización estructural por microscopia electrónica de transmisión de capas de arseniuro de galio epitaxiadas sobre sustratos de silicio | Vilà i Arbonès, Anna Maria |
| 1993 | Modificaciones estructurales en el óxido de silicio térmico inducidas por los procesos tecnológicos en microelectrónica: aplicación de la espectroscopía infrarroja | Garrido Fernández, Blas |
| 3-Sep-1993 | Caracterización por microscopía electrónica de transmisión de heteroestructuras InGaAs/InAIAs crecidas por epitaxia de haces moleculares sobre substratos de InP | Peiró Martínez, Francisca |
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