Si us plau utilitzeu sempre aquest identificador per citar o enllaçar aquest document:
https://hdl.handle.net/2445/182451| Títol: | Can super-resolution microscopy become a standard characterization technique for materials chemistry? |
| Autor: | Dhiman, Shikha Andrian, Teodora Santiago Gonzalez, Beatriz Tholen, Marrit M. E. Wang, Yuyang Albertazzi, Lorenzo |
| Matèria: | Ciència dels materials Microscòpia de materials Materials science Microscopy of materials |
| Data de publicació: | 1-des-2021 |
| Publicat per: | Royal Society of Chemistry |
| Resum: | SRM, an advanced nanoscopy technique demands a transition from being a niche sophisticated technique to standard routine method for material characterization. The roadmap of necessary developments through multidisciplinary collaboration is discussed. |
| Nota: | Reproducció del document publicat a: https://doi.org/10.1039/d1sc05506b |
| És part de: | Chemical Science, 2021 |
| URI: | https://hdl.handle.net/2445/182451 |
| Recurs relacionat: | https://doi.org/10.1039/d1sc05506b |
| ISSN: | 2041-6539 |
| Apareix en les col·leccions: | Publicacions de projectes de recerca finançats per la UE Articles publicats en revistes (Institut de Bioenginyeria de Catalunya (IBEC)) |
Fitxers d'aquest document:
| Fitxer | Descripció | Dimensions | Format | |
|---|---|---|---|---|
| 12537_6543272_d1sc05506b.pdf | 1.28 MB | Adobe PDF | Mostrar/Obrir |
Aquest document està subjecte a una
Llicència Creative Commons
