Please use this identifier to cite or link to this item:
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorLópez Fernández, Francisco-
dc.descriptionPodeu consultar el llibre complet a:
dc.description.abstractThis article outlines the basis of the technique and shows some examples of applications in order to exhibit the expectations of this technique in varied scientific fields.eng
dc.format.extent14 p.-
dc.publisherCentres Científics i Tecnològics. Universitat de Barcelonacat
dc.relation.isformatofReproducció del document original-
dc.relation.ispartofCapítol del llibre: Handbook of instrumental techniques for materials, chemical and biosciences research, Centres Científics i Tecnològics. Universitat de Barcelona, Barcelona, 2012. Part I. Materials technologies (MT), MT.10, 14 p.-
dc.rights(c) Universitat de Barcelona, 2012-
dc.sourceLlibres / Capítols de llibre (Centres Científics i Tecnològics de la Universitat de Barcelona (CCiTUB))-
dc.subject.classificationEspectrometria de massescat
dc.subject.classificationAnàlisi instrumentalcat
dc.subject.otherMass spectrometryeng
dc.subject.otherInstrumental analysiseng
dc.titleSecondary Ion Mass Spectrometry (SIMS): principles and applicationseng
Appears in Collections:Llibres / Capítols de llibre (Centres Científics i Tecnològics de la Universitat de Barcelona (CCiTUB))

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
MT10 - Secondary Ion Mass Spectrometry_ed2.pdf1.04 MBAdobe PDFView/Open

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.