Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/2445/32165
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorLópez Fernández, Francisco-
dc.date.accessioned2012-10-01T08:31:55Z-
dc.date.available2012-10-01T08:31:55Z-
dc.date.issued2012-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2445/32165-
dc.descriptionPodeu consultar el llibre complet a: http://hdl.handle.net/2445/32166-
dc.description.abstractThis article outlines the basis of the technique and shows some examples of applications in order to exhibit the expectations of this technique in varied scientific fields.eng
dc.format.extent14 p.-
dc.format.mimetypeapplication/pdf-
dc.language.isoengeng
dc.publisherCentres Científics i Tecnològics. Universitat de Barcelonacat
dc.relation.isformatofReproducció del document original-
dc.relation.ispartofCapítol del llibre: Handbook of instrumental techniques for materials, chemical and biosciences research, Centres Científics i Tecnològics. Universitat de Barcelona, Barcelona, 2012. Part I. Materials technologies (MT), MT.10, 14 p.-
dc.relation.urihttp://hdl.handle.net/2445/32166-
dc.rights(c) Universitat de Barcelona, 2012-
dc.sourceLlibres / Capítols de llibre (Centres Científics i Tecnològics de la Universitat de Barcelona (CCiTUB))-
dc.subject.classificationEspectrometria de massescat
dc.subject.classificationAnàlisi instrumentalcat
dc.subject.otherMass spectrometryeng
dc.subject.otherInstrumental analysiseng
dc.titleSecondary Ion Mass Spectrometry (SIMS): principles and applicationseng
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/bookParteng
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersion-
dc.rights.accessRightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesseng
Appears in Collections:Llibres / Capítols de llibre (Centres Científics i Tecnològics de la Universitat de Barcelona (CCiTUB))

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
MT10 - Secondary Ion Mass Spectrometry_ed2.pdf1.04 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.