Besteiro, J.Vendrell Saz, MàriusLópez Soler, ÁngelBosch Figueroa, J. M.Font-Altaba, M. (Manuel), 1922-20052011-05-252011-05-2519740567-7505https://hdl.handle.net/2445/18182Para el cálculo de las constantes fsicas n, k, a partir de las medidas de reflectancia en dos medios de índice de refracción conocido y diferente, se necesita emplear criterios estadísticos, lo que obliga a obtener gran cantidad de datos experimentales y por consiguiente el cálculo es muy laborioso. Se describe el método automàtico utilizado para la simplificación de estas operaciones que permiten realizar dichos cálculos en gran rapidez.2 p.application/pdfspa(c) Besteiro, et al., 1974MicroscòpiaRefraccióMicroscopyRefractioninfo:eu-repo/semantics/article65707info:eu-repo/semantics/openAccess