Solans, Xavier, 1949-2007Miravitlles Torras, Carles2011-05-252011-05-2519780567-7505https://hdl.handle.net/2445/18191Se desarrolla en este trabajo un sistema de calculo para la determinación de estructuras cristalinas por difracción de rayos-X. Las caracteristicas de este sistema son: Incorporar los métodos y las técnicas más recientes. Obtener la máxima velocidad de ejecución posible. Obtener la total automatización del proceso. Y conseguir la mínima ocupacion de memoria posible.4 p.application/pdfspa(c) Solans et al., 1978Estructura cristal·lina (Sòlids)Raigs XRadiocristal·lografiaLayer structure (Solids)X-raysX-ray crystallographySistema automático para determinar estructuras cristalinas por difracción de rayos-Xinfo:eu-repo/semantics/article8226info:eu-repo/semantics/openAccess