Browsing by Author López Fernández, Francisco
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| Issue Date | Title | Author(s) |
|---|---|---|
| 19-Jul-1993 | Espectrometría de masas de iones secundarios: aportaciones a la técnica y caracterización de capas finas de a-C:H y de a-Si:H | López Fernández, Francisco |
| 2012 | Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS): principles and applications | López Fernández, Francisco |