Please use this identifier to cite or link to this item:
http://hdl.handle.net/2445/96862| Title: | Microscòpia de força atòmica i les seves aplicacions (Seminaris Tecnològics 2013) |
| Author: | Borrell Hernández, Jordi |
| Keywords: | Microscòpia de força atòmica Seminaris Atomic force microscopy Seminars |
| Issue Date: | 8-May-2013 |
| Publisher: | Universitat de Barcelona. Facultat de Farmàcia |
| It is part of: | Seminaris Tecnològics de Facultat de Farmàcia 2013 (Seminari 2) |
| URI: | http://hdl.handle.net/2445/96862 |
| Appears in Collections: | Seminaris Tecnològics (Facultat de Farmàcia i Ciències de l'Alimentació) Comunicacions a congressos (Institut de Nanociència i Nanotecnologia (IN2UB)) Comunicacions a congressos (Farmàcia, Tecnologia Farmacèutica i Fisicoquímica) |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Seminari Tec2_Borrell.pdf | 6.34 MB | Adobe PDF | View/Open |
This item is licensed under a
Creative Commons License
