Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/2445/96862
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorBorrell Hernández, Jordi-
dc.date.accessioned2016-04-01T15:37:31Z-
dc.date.available2016-04-01T15:37:31Z-
dc.date.issued2013-05-08-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2445/96862-
dc.format.extent26 p.-
dc.format.mimetypeapplication/pdf-
dc.language.isocatca
dc.publisherUniversitat de Barcelona. Facultat de Farmàciaca
dc.relation.ispartofSeminaris Tecnològics de Facultat de Farmàcia 2013 (Seminari 2)-
dc.rightscc-by-nc-nd (c) Borrell, 2013-
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/-
dc.sourceSeminaris Tecnològics (Facultat de Farmàcia i Ciències de l'Alimentació)-
dc.subject.classificationMicroscòpia de força atòmicacat
dc.subject.classificationSeminariscat
dc.subject.otherAtomic force microscopyeng
dc.subject.otherSeminarseng
dc.titleMicroscòpia de força atòmica i les seves aplicacions (Seminaris Tecnològics 2013)ca
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjectca
dc.rights.accessRightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessca
Appears in Collections:Seminaris Tecnològics (Facultat de Farmàcia i Ciències de l'Alimentació)
Comunicacions a congressos (Institut de Nanociència i Nanotecnologia (IN2UB))
Comunicacions a congressos (Farmàcia, Tecnologia Farmacèutica i Fisicoquímica)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Seminari Tec2_Borrell.pdf6.34 MBAdobe PDFView/Open


This item is licensed under a Creative Commons License Creative Commons