Por favor, use este identificador para citar o enlazar este documento:
https://hdl.handle.net/2445/96862| Título: | Microscòpia de força atòmica i les seves aplicacions (Seminaris Tecnològics 2013) |
| Autor: | Borrell Hernández, Jordi |
| Materia: | Microscòpia de força atòmica Seminaris Atomic force microscopy Seminars |
| Fecha de publicación: | 8-may-2013 |
| Publicado por: | Universitat de Barcelona. Facultat de Farmàcia |
| Es parte de: | Seminaris Tecnològics de Facultat de Farmàcia 2013 (Seminari 2) |
| URI: | https://hdl.handle.net/2445/96862 |
| Aparece en las colecciones: | Seminaris Tecnològics (Facultat de Farmàcia i Ciències de l'Alimentació) Comunicacions a congressos (Institut de Nanociència i Nanotecnologia (IN2UB)) Comunicacions a congressos (Farmàcia, Tecnologia Farmacèutica i Fisicoquímica) |
Archivos de este documento:
| Archivo | Descripción | Dimensiones | Formato | |
|---|---|---|---|---|
| Seminari Tec2_Borrell.pdf | 6.34 MB | Adobe PDF | Mostrar/Abrir |
Este documento está sujeto a una
Licencia Creative Commons
