Miniatura

Fitxers

870030.pdf (3.34 MB)

Tipus de document

Article

Versió

Versió publicada

Data de publicació

2020-03-09

Llicència de publicació

cc-by (c) Marchello, G., et al., 2020
Si us plau utilitzeu sempre aquest identificador per citar o enllaçar aquest document: https://hdl.handle.net/2445/216517

End‐to‐end image analysis pipeline for liquid‐phase electron microscopy

Títol de la revista

Autors

Director/Tutor

ISSN de la revista

Títol del volum

Recurs relacionat

https://doi.org/10.1111/jmi.12889

Resum

Liquid phase transmission electron microscopy allows the imaging of materials in liquid environments. The sample is encapsulated within electron-beam transparent windows and hence protected by the ultrahigh vacuum necessary within the electron gun. Such an approach allows to study biological and soft materials in their natural environment and offers the possibility of accessing their dynamic nature. Yet, the electron beam scattering from the windows and solvent increases the image noise and blur. Herein, we propose a pipeline to both de-noise and sharpen images obtained by liquid transmission electron microscopy. We develop the workflow in a way that it does not require any human interference, nor introduce artefacts, but actually unveils features of the imaged samples covered by the noise and the blur.

Matèries

Microscòpia electrònica de transmissió, Microscòpia electrònica

Matèries (anglès)

Transmission electron microscopy, Electron microscopy

Citació

Col·leccions

Articles publicats en revistes (Física Aplicada)

Citació

MARCHELLO, G., DE PACE, C., DURO‐CASTANO, A., BATTAGLIA, G., RUIZ‐PEREZ, Lorena. End‐to‐end image analysis pipeline for liquid‐phase electron microscopy. _Journal of Microscopy-Oxford_. 2020. Vol. 279, núm. 3, pàgs. 242-248. [consulta: 7 de febrer de 2026]. ISSN: 0022-2720. [Disponible a: https://hdl.handle.net/2445/216517]

Exportar metadades

JSON - METS

Compartir registre