Carregant...
Fitxers
Tipus de document
ArticleVersió
Versió publicadaData de publicació
Tots els drets reservats
Si us plau utilitzeu sempre aquest identificador per citar o enllaçar aquest document: https://hdl.handle.net/2445/54287
Mueller matrix microscope with a dual continuous rotating compensator setup and digital demodulation
Títol de la revista
Director/Tutor
ISSN de la revista
Títol del volum
Recurs relacionat
Resum
In this paper we describe a new Mueller matrix (MM) microscope that generalizes and makes quantitative the polarized light microscopy technique. In this instrument all the elements of the MU are simultaneously determined from the analysis in the frequency domain of the time-dependent intensity of the light beam at every pixel of the camera. The variations in intensity are created by the two compensators continuously rotating at different angular frequencies. A typical measurement is completed in a little over one minute and it can be applied to any visible wavelength. Some examples are presented to demonstrate the capabilities of the instrument.
Matèries
Matèries (anglès)
Citació
Col·leccions
Citació
ARTEAGA BARRIEL, Oriol, BALDRÍS CALMET, Marta, ANTÓ ROCA, Joan, CANILLAS I BIOSCA, Adolf, PASCUAL MIRALLES, Esther, BERTRÁN SERRA, Enric. Mueller matrix microscope with a dual continuous rotating compensator setup and digital demodulation. _Applied Optics_. 2014. Vol. 53, núm. 10, pàgs. 2236-2245. [consulta: 24 de gener de 2026]. ISSN: 1559-128X. [Disponible a: https://hdl.handle.net/2445/54287]