Amb motiu del tancament d'estiu, la validació de documents es reprendrà a partir del 28 d'agost de 2026. Disculpeu les molèsties.
Con motivo del cierre de verano, la validación de documentos se reanudará a partir del 28 de agosto de 2026. Disculpad las molestias
Due to the summer closure, document validation will resume starting August 28, 2026. We apologize for any inconvenience.

Fitxers

118390.pdf (232.17 KB)

Tipus de document

Article

Versió

Versió publicada

Data de publicació

1997

Tots els drets reservats

Si us plau utilitzeu sempre aquest identificador per citar o enllaçar aquest document: https://hdl.handle.net/2445/8502

Statistics of transverse mode turn-on dynamics in VCSEL's

Títol de la revista

Autors

Director/Tutor

ISSN de la revista

Títol del volum

Recurs relacionat

http://dx.doi.org/10.1109/3.594885

Resum

The turn-on process of a multimode VCSEL is investigated from a statistical point of view. Special attention is paid to quantities such as time jitter and bit error rate. The single-mode performance of VCSEL¿s during current modulation is compared to that of edge-emitting lasers.

Matèries

Dinàmica, Làsers de semiconductors, Estadística

Matèries (anglès)

Dynamics, Semiconductor lasers, Statistics

Citació

Col·leccions

Articles publicats en revistes (Física Quàntica i Astrofísica)

Citació

DELLUNDE I CLAVÉ, Jaume, et al. Statistics of transverse mode turn-on dynamics in VCSEL's. IEEE Journal of Quantum Electronics. 1997. Vol. 33, num. 7, pags. 1197-1204. ISSN 0018-9197. [consulted: 18 of August of 2026]. Available at: https://hdl.handle.net/2445/8502

Exportar metadades

JSON - METS

Compartir registre