Miniatura

Fitxers

586487.pdf (500.94 KB)

Tipus de document

Article

Versió

Versió acceptada

Data de publicació

2010-12-17

Tots els drets reservats

Si us plau utilitzeu sempre aquest identificador per citar o enllaçar aquest document: https://hdl.handle.net/2445/98142

Detection and characterization of single nanoparticles by interferometric phase modulated ellipsometry

Títol de la revista

Autors

Director/Tutor

ISSN de la revista

Títol del volum

Recurs relacionat

http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2010.12.051

Resum

We introduce a new measurement system called Nanopolar interferometer devoted to monitor and characterize single nanoparticles which is based on the interferometric phase modulated ellipsometry technique. The system collects the backscattered light by the particles in the solid angle subtended by a microscope objective and then analyses its frequency components. The results for the detection of 2 μm and 50 nm particles are explained in terms of a cross polarization effect of the polarization vectors when the beam converts from divergent to parallel in the microscope objective. This explanation is supported with the results of the optical modelling using the exact Mie theory for the light scattered by the particles.

Matèries

El·lipsometria, Nanoestructures, Interferometria

Matèries (anglès)

Ellipsometry, Nanostructures, Interferometry

Citació

Col·leccions

Articles publicats en revistes (Física Aplicada)

Citació

BARROSO, F., BOSCH I PUIG, Salvador, TORT ESCRIBÀ, Núria, ARTEAGA BARRIEL, Oriol, SANCHO I PARRAMON, Jordi, JOVER, Eric, BERTRÁN SERRA, Enric, CANILLAS I BIOSCA, Adolf. Detection and characterization of single nanoparticles by interferometric phase modulated ellipsometry. _Thin Solid Films_. 2010. Vol. 519, núm. 2801-2805. [consulta: 24 de gener de 2026]. ISSN: 0040-6090. [Disponible a: https://hdl.handle.net/2445/98142]

Exportar metadades

JSON - METS

Compartir registre