Carregant...
Tipus de document
Treball de fi de grauData de publicació
Llicència de publicació
Si us plau utilitzeu sempre aquest identificador per citar o enllaçar aquest document: https://hdl.handle.net/2445/141107
Crystallographic characterization of a BFMO layer grown on STO through HRTEM imaging and simulation
Títol de la revista
Autors
Director/Tutor
ISSN de la revista
Títol del volum
Recurs relacionat
Resum
Bi(Fe0.5Mn0.5)O3 is a multiferroic material with electric and magnetic properties of great interest for potential spintronic applications. To understand what triggers its peculiar behaviour it is essential to know its structure, and for that, TEM is the ideal tool for analysis at the nanoscale. The aim is to study a thin film of BFMO grown on a STO substrate through the analysis of high resolution transmission electron microscopy (HREM) images and the use of HREM simulations from theoretical atomistic models built also in this project. The results show that this method can lead to useful results in structure determination of a material
Descripció
Treballs Finals de Grau de Física, Facultat de Física, Universitat de Barcelona, Curs: 2019, Tutores: Francesca Peiró Martínez, Catalina Coll Benejam
Matèries (anglès)
Citació
Col·leccions
Citació
DECO, Nikolas. Crystallographic characterization of a BFMO layer grown on STO through HRTEM imaging and simulation. [consulta: 23 de gener de 2026]. [Disponible a: https://hdl.handle.net/2445/141107]