Miniatura

Fitxers

667663.pdf (1.62 MB)

Tipus de document

Article

Versió

Versió acceptada

Data de publicació

2016-09-06

Tots els drets reservats

Si us plau utilitzeu sempre aquest identificador per citar o enllaçar aquest document: https://hdl.handle.net/2445/124317

Nanoscale dielectric microscopy of non-planar samples by lift-mode electrostatic force microscopy

Títol de la revista

Autors

Director/Tutor

ISSN de la revista

Títol del volum

Recurs relacionat

https://doi.org/10.1088/0957-4484/27/40/405706

Resum

Lift-mode electrostatic force microscopy (EFM) is one of the most convenient imaging modes to study the local dielectric properties of non-planar samples. Here we present the quantitative analysis of this imaging mode. We introduce a method to quantify and subtract the topographic crosstalk from the lift-mode EFM images, and a 3D numerical approach that allows for extracting the local dielectric constant with nanoscale spatial resolution free from topographic artifacts. We demonstrate this procedure by measuring the dielectric properties of micropatterned SiO2 pillars and of single bacteria cells, thus illustrating the wide applicability of our approach from materials science to biology.

Matèries

Dielèctrics, Nanotecnologia, Microscòpia de força atòmica

Matèries (anglès)

Dielectrics, Nanotechnology, Atomic force microscopy

Citació

Col·leccions

Articles publicats en revistes (Enginyeria Electrònica i Biomèdica)
Articles publicats en revistes (Institut de Bioenginyeria de Catalunya (IBEC))

Citació

Van Der Hofstadt, FABREGAS, Rene, BIAGI, Maria chiara, FUMAGALLI, Laura, GOMILA LLUCH, Gabriel, SERRANO, Marc. Nanoscale dielectric microscopy of non-planar samples by lift-mode electrostatic force microscopy. _Nanotechnology_. 2016. Vol. 27, núm. 40, pàgs. 405706. [consulta: 10 de gener de 2026]. ISSN: 0957-4484. [Disponible a: https://hdl.handle.net/2445/124317]

Exportar metadades

JSON - METS

Compartir registre