Miniatura

Fitxers

526813.pdf (108.2 KB)

Tipus de document

Article

Versió

Versió publicada

Data de publicació

2004

Tots els drets reservats

Si us plau utilitzeu sempre aquest identificador per citar o enllaçar aquest document: https://hdl.handle.net/2445/13170

Shot noise in linear macroscopic resistors

Títol de la revista

Autors

Director/Tutor

ISSN de la revista

Títol del volum

Recurs relacionat

http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.92.226601

Resum

We report on direct experimental evidence of shot noise in a linear macroscopic resistor. The origin of the shot noise comes from the fluctuation of the total number of charge carriers inside the resistor associated with their diffusive motion under the condition that the dielectric relaxation time becomes longer than the dynamic transit time. The present results show that neither potential barriers nor the absence of inelastic scattering are necessary to observe shot noise in electronic devices.

Matèries

Enginyeria elèctrica

Matèries (anglès)

Electric engineering

Citació

Col·leccions

Articles publicats en revistes (Enginyeria Electrònica i Biomèdica)

Citació

GOMILA LLUCH, Gabriel, PENNETTA, C., REGGIANI, L. (lino), FERRARI, G., SAMPIETRO, M., BERTUCCIO, G.. Shot noise in linear macroscopic resistors. _Physical Review Letters_. 2004. Vol. 92, núm. 22, pàgs. 226601-1-226601-4. [consulta: 14 de gener de 2026]. ISSN: 0031-9007. [Disponible a: https://hdl.handle.net/2445/13170]

Exportar metadades

JSON - METS

Compartir registre