Carregant...
Fitxers
Tipus de document
ArticleVersió
Versió acceptadaData de publicació
Tots els drets reservats
Si us plau utilitzeu sempre aquest identificador per citar o enllaçar aquest document: https://hdl.handle.net/2445/47371
Shutterless deposition of phosphorous doped microcrystalline silicon by Cat-CVD
Títol de la revista
Director/Tutor
ISSN de la revista
Títol del volum
Recurs relacionat
Resum
In this paper we present results on phosphorous-doped μc-Si:H by catalytic chemical vapour deposition in a reactor with an internal arrangement that does not include a shutter. An incubation phase of around 20 nm seems to be the result of the uncontrolled conditions that take place during the first stages of deposition. The optimal deposition conditions found lead to a material with a dark conductivity of 12.8 S/cm, an activation energy of 0.026 eV and a crystalline fraction of 0.86. These values make the layers suitable to be implemented in solar cells.
Matèries (anglès)
Citació
Col·leccions
Citació
FONRODONA TURON, Marta, GORDIJN, A., VAN VEEN, M. k., VAN DER WERF, C. h. m., BERTOMEU I BALAGUERÓ, Joan, ANDREU I BATALLÉ, Jordi, SCHROPP, Ruud e. i.. Shutterless deposition of phosphorous doped microcrystalline silicon by Cat-CVD. _Thin Solid Films_. 2003. Vol. 430, núm. 1-2, pàgs. 145-148. [consulta: 23 de gener de 2026]. ISSN: 0040-6090. [Disponible a: https://hdl.handle.net/2445/47371]