Carregant...
Fitxers
Tipus de document
ArticleVersió
Versió acceptadaData de publicació
Tots els drets reservats
Si us plau utilitzeu sempre aquest identificador per citar o enllaçar aquest document: https://hdl.handle.net/2445/128199
Evidence of a minoritary monoclinic LaNiO<sub>2.5</sub> phase in lanthanum nickelate thin films
Títol de la revista
Director/Tutor
ISSN de la revista
Títol del volum
Recurs relacionat
Resum
LaNiO3 (LNO) thin films of 14 nm and 35 nm thicknesses grown epitaxially on LaAlO3 (LAO) and (LaAlO3)0.3(Sr2TaAlO6)0.7 (LSAT) substrates are studied using High Resolution Transmission Electron Microscopy (HRTEM) and High Angle Annular Dark Field (HAADF) imaging. The strain state of the films is studied using Geometric Phase Analysis (GPA). Results show the successful in-plane adaptation of the films to the substrates, both in the compressive (LAO) and tensile (LSAT) cases. Through the systematic analysis of HRTEM superstructure contrast modulation along different crystal orientations, localized regions of the monoclinic LaNiO2.5 phase are detected in the 35 nm films.
Matèries (anglès)
Citació
Citació
LÓPEZ CONESA, Lluís, REBLED, J. m. (josé manuel), PESQUERA, David, DIX, Nico, SÁNCHEZ BARRERA, Florencio, HERRANZ CASABONA, Gervasi, FONTCUBERTA, Josep, MAGÉN, César, CASANOVE, Marie jose, ESTRADÉ ALBIOL, Sònia, PEIRÓ MARTÍNEZ, Francisca. Evidence of a minoritary monoclinic LaNiO<sub>2.5</sub> phase in lanthanum nickelate thin films. _Physical Chemistry Chemical Physics_. 2017. Vol. 19, núm. 13, pàgs. 9137-9142. [consulta: 25 de gener de 2026]. ISSN: 1463-9076. [Disponible a: https://hdl.handle.net/2445/128199]