Miniatura

Fitxers

572681.pdf (1.32 MB)

Tipus de document

Article

Versió

Versió publicada

Data de publicació

2009

Tots els drets reservats

Si us plau utilitzeu sempre aquest identificador per citar o enllaçar aquest document: https://hdl.handle.net/2445/24297

Determination of the components of the gyration tensor of quartz by oblique incidence transmission two-modulator generalized ellipsometry

Títol de la revista

Autors

Director/Tutor

ISSN de la revista

Títol del volum

Recurs relacionat

http://dx.doi.org/10.1364/AO.48.005307

Resum

The two independent components of the gyration tensor of quartz, g11 and g33, have been spectroscopically measured using a transmission two-modulator generalized ellipsometer. The method is used to determine the optical activity in crystals in directions other than the optic axis, where the linear birefringence is much larger than the optical activity.

Matèries

El·lipsometria

Matèries (anglès)

Ellipsometry

Citació

Col·leccions

Articles publicats en revistes (Física Aplicada)

Citació

ARTEAGA BARRIEL, Oriol, CANILLAS I BIOSCA, Adolf, JELLISON, Gerald e.. Determination of the components of the gyration tensor of quartz by oblique incidence transmission two-modulator generalized ellipsometry. _Applied Optics_. 2009. Vol. 49, núm. 28, pàgs. 5307-5317. [consulta: 21 de gener de 2026]. ISSN: 0003-6935. [Disponible a: https://hdl.handle.net/2445/24297]

Exportar metadades

JSON - METS

Compartir registre