Amb motiu del tancament d'estiu, la validació de documents es reprendrà a partir del 28 d'agost de 2026. Disculpeu les molèsties.
Con motivo del cierre de verano, la validación de documentos se reanudará a partir del 28 de agosto de 2026. Disculpad las molestias
Due to the summer closure, document validation will resume starting August 28, 2026. We apologize for any inconvenience.

Fitxers

12537_6543272_d1sc05506b.pdf (1.25 MB)

Tipus de document

Article

Versió

Versió publicada

Data de publicació

2021-12-01

Llicència de publicació

cc by-nc (c) Dhiman, Shikha et al, 2021
Si us plau utilitzeu sempre aquest identificador per citar o enllaçar aquest document: https://hdl.handle.net/2445/182451

Can super-resolution microscopy become a standard characterization technique for materials chemistry?

Títol de la revista

Autors

Director/Tutor

ISSN de la revista

Títol del volum

Recurs relacionat

https://doi.org/10.1039/d1sc05506b

Resum

SRM, an advanced nanoscopy technique demands a transition from being a niche sophisticated technique to standard routine method for material characterization. The roadmap of necessary developments through multidisciplinary collaboration is discussed.

Matèries

Ciència dels materials, Microscòpia de materials

Matèries (anglès)

Materials science, Microscopy of materials

Citació

Col·leccions

Articles publicats en revistes (Institut de Bioenginyeria de Catalunya (IBEC))
Publicacions de projectes de recerca finançats per la UE

Citació

DHIMAN, Shikha, et al. Can super-resolution microscopy become a standard characterization technique for materials chemistry?. Chemical Science. 2021. ISSN 2041-6539. [consulted: 14 of August of 2026]. Available at: https://hdl.handle.net/2445/182451

Exportar metadades

JSON - METS

Compartir registre