Tipus de document

Article

Versió

Versió publicada

Data de publicació

Llicència de publicació

cc by-nc (c) Dhiman, Shikha et al, 2021
Si us plau utilitzeu sempre aquest identificador per citar o enllaçar aquest document: https://hdl.handle.net/2445/182451

Can super-resolution microscopy become a standard characterization technique for materials chemistry?

Títol de la revista

Director/Tutor

ISSN de la revista

Títol del volum

Resum

SRM, an advanced nanoscopy technique demands a transition from being a niche sophisticated technique to standard routine method for material characterization. The roadmap of necessary developments through multidisciplinary collaboration is discussed.

Citació

Citació

DHIMAN, Shikha, et al. Can super-resolution microscopy become a standard characterization technique for materials chemistry?. Chemical Science. 2021. ISSN 2041-6539. [consulted: 23 of May of 2026]. Available at: https://hdl.handle.net/2445/182451

Exportar metadades

JSON - METS

Compartir registre