Carregant...
Miniatura

Tipus de document

Article

Versió

Versió publicada

Data de publicació

Llicència de publicació

cc by-nc (c) Dhiman, Shikha et al, 2021
Si us plau utilitzeu sempre aquest identificador per citar o enllaçar aquest document: https://hdl.handle.net/2445/182451

Can super-resolution microscopy become a standard characterization technique for materials chemistry?

Títol de la revista

Director/Tutor

ISSN de la revista

Títol del volum

Resum

SRM, an advanced nanoscopy technique demands a transition from being a niche sophisticated technique to standard routine method for material characterization. The roadmap of necessary developments through multidisciplinary collaboration is discussed.

Citació

Citació

DHIMAN, Shikha, ANDRIAN, Teodora, SANTIAGO GONZALEZ, Beatriz, THOLEN, Marrit m. e., WANG, Yuyang, ALBERTAZZI, Lorenzo. Can super-resolution microscopy become a standard characterization technique for materials chemistry?. _Chemical Science_. 2021. [consulta: 20 de gener de 2026]. ISSN: 2041-6539. [Disponible a: https://hdl.handle.net/2445/182451]

Exportar metadades

JSON - METS

Compartir registre