Miniatura

Fitxers

629697.pdf (531.42 KB)

Tipus de document

Article

Versió

Versió acceptada

Data de publicació

2014

Tots els drets reservats

Si us plau utilitzeu sempre aquest identificador per citar o enllaçar aquest document: https://hdl.handle.net/2445/98783

Metal island film-based structures for sensing using spectrophotometry and ellipsometry

Títol de la revista

Autors

Director/Tutor

ISSN de la revista

Títol del volum

Recurs relacionat

http://dx.doi.org/10.1007/s00339-013-8056-x

Resum

Metal island films (MIF) are good candidates for sensors due to the strong sensitivity of the localised surface plasmon resonance to the environment refractive index. The strong near field enhancement in the vicinity of the island surface can be even higher if a metal layer (ML) is placed close to a MIF. Structures containing MIF with and without ML are prepared and sensitivities of spectrophotometric and ellipsometric features of the measurements are compared. It is shown that simple MIF is preferable for ellipsometry-based sensing and the one including ML in the case of spectrophotometric measurements.

Matèries

Ressonància de plasmons superficials, Pel·lícules metàl·liques, El·lipsometria

Matèries (anglès)

Surface plasmon resonance, Metallic films, Ellipsometry

Citació

Col·leccions

Articles publicats en revistes (Física Aplicada)

Citació

JANICKI, V., SANCHO I PARRAMON, Jordi, BOSCH I PUIG, Salvador, ZORC, H., BELARRE, F. j., ARBIOL I COBOS, Jordi. Metal island film-based structures for sensing using spectrophotometry and ellipsometry. _Applied Physics A-Materials Science & Processing_. 2014. Vol. 115, núm. 2, pàgs. 481-486. [consulta: 14 de gener de 2026]. ISSN: 0947-8396. [Disponible a: https://hdl.handle.net/2445/98783]

Exportar metadades

JSON - METS

Compartir registre