Carregant...
Fitxers
Tipus de document
ArticleVersió
Versió publicadaData de publicació
Llicència de publicació
Si us plau utilitzeu sempre aquest identificador per citar o enllaçar aquest document: https://hdl.handle.net/2445/167718
L'el·lipsometria, una eina de caracterització òptica dels materials
Títol de la revista
Director/Tutor
ISSN de la revista
Títol del volum
Recurs relacionat
Resum
El nom el·lipsometria va ser introduït l'any 1945 per Alexandre Rothen en un article publicat a Review of Scientific Instruments, titulat The Ellipsometer,an Apparatus to Measure Thicknesses of Thin Films. L'el·lipsometria, en el sentit més general, fa referencia a la mesura del canvi de l'estat de polarització de la llum en reflectir-se en una superfície. Del resultat de la mesura el.lipsomètrica es poden pot obtenir les constants òptiques del material que origina la reflexió. Les primeres experiències el.lipsomètriques daten del final del segle XIX; bàsicament, en aquestes experiències s'utilitzaven dos polaritzadors. Un, per tal de polaritzar la llum que es feia incidir sobre el material, i un altre, el qual s'anomena analitzador, que servia per determinar l'estat de polarització de la llum reflectida (Casas, 1980).
Matèries
Matèries (anglès)
Citació
Col·leccions
Citació
CANILLAS I BIOSCA, Adolf, CAMPMANY I GUILLOT, Josep, PASCUAL MIRALLES, Esther, BERTRÁN SERRA, Enric. L'el·lipsometria, una eina de caracterització òptica dels materials. _Revista de Física_. 1996. Vol. 10, núm. 4-11. [consulta: 20 de gener de 2026]. ISSN: 1131-5326. [Disponible a: https://hdl.handle.net/2445/167718]