El Dipòsit Digital ha actualitzat el programari. Qualsevol incidència que trobeu si us plau contacteu amb dipositdigital@ub.edu.

 
Miniatura

Fitxers

MT10 - Secondary Ion Mass Spectrometry_ed2.pdf (1.02 MB)

Tipus de document

Part del llibre

Versió

Versió publicada

Data de publicació

2012
Si us plau utilitzeu sempre aquest identificador per citar o enllaçar aquest document: https://hdl.handle.net/2445/32165

Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS): principles and applications

Títol de la revista

Autors

ISSN de la revista

Títol del volum

Resum

This article outlines the basis of the technique and shows some examples of applications in order to exhibit the expectations of this technique in varied scientific fields.

Descripció

Podeu consultar el llibre complet a: http://hdl.handle.net/2445/32166

Matèries

Espectrometria de masses, Anàlisi instrumental

Matèries (anglès)

Mass spectrometry, Instrumental analysis

Citació

Col·leccions

Llibres / Capítols de llibre (Centres Científics i Tecnològics de la Universitat de Barcelona (CCiTUB))

Citació

LÓPEZ FERNÁNDEZ, Francisco. Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS): principles and applications. _Capítol del llibre: Handbook of instrumental techniques for materials_. chemical and biosciences research. Vol. Universitat de Barcelona, núm. Barcelona, pàgs. Part I. [consulta: 25 de novembre de 2025]. [Disponible a: https://hdl.handle.net/2445/32165]

Exportar metadades

JSON - METS

Compartir registre