Carregant...
Tipus de document
Treball de fi de grauData de publicació
Llicència de publicació
Si us plau utilitzeu sempre aquest identificador per citar o enllaçar aquest document: https://hdl.handle.net/2445/215537
Mueller matrix spectroscopic ellipsometry of a thin ZnO anisotropic crystal layer and its optical properties
Títol de la revista
Director/Tutor
ISSN de la revista
Títol del volum
Recurs relacionat
Resum
We have determined the optical properties (ordinary and extraordinary index of refraction) of a thin anisotropic uniaxial sample of ZnO on a glass substrate, using a 4-photoelastic modulator polarimeter (4PEM). The analysis was done by shining a light beam on two points of the sample, to analyse its inhomogeneity, and by 3 different incidence angles for each point. Using a preesxisting Matlab code to fit the 4PEM results, the coefficients of the Mueller Matrix (MM) were simulated for each wavelength, from 400 nm to 800 nm, and then the indices of refraction were calculated using a Sellmeier expression and compared with the values of ZnO bulk monocrystal from the bibliography
Descripció
Treballs Finals de Grau de Física, Facultat de Física, Universitat de Barcelona, Curs: 2024, Tutor: Jordi Gomis Brescó
Matèries
Matèries (anglès)
Citació
Col·leccions
Citació
CRUZ PALMA, Michelle fernanda. Mueller matrix spectroscopic ellipsometry of a thin ZnO anisotropic crystal layer and its optical properties. [consulta: 25 de febrer de 2026]. [Disponible a: https://hdl.handle.net/2445/215537]