Amb motiu del tancament d'estiu, la validació de documents es reprendrà a partir del 28 d'agost de 2026. Disculpeu les molèsties.
Con motivo del cierre de verano, la validación de documentos se reanudará a partir del 28 de agosto de 2026. Disculpad las molestias
Due to the summer closure, document validation will resume starting August 28, 2026. We apologize for any inconvenience.

Tipus de document

Altres

Data de publicació

Llicència de publicació

cc-by-nc-sa (c) Andilla i Salla, Jordi et al., 2010
Si us plau utilitzeu sempre aquest identificador per citar o enllaçar aquest document: https://hdl.handle.net/2445/14584

Applet of multiple beam interference

Títol de la revista

Director/Tutor

ISSN de la revista

Títol del volum

Resum

This applet shows multiple beam interferences from a parallel dielectric thin film. The applet lets you study the evolution of reflection and refraction factors when the index of refraction and the absorption of the film and the substrate are modified. These can be constant or have a wavelength dependency.

Descripció

Part of Joptics, an ensemble of teaching resources for Physical Optics at university level as part of physics or optics and optometry studies. http://www.ub.edu/javaoptics/index-en.html
Podeu consultar la versió en català a: http://hdl.handle.net/2445/14329 ; i en castellà a: http://hdl.handle.net/2445/14389

Matèries (anglès)

Citació

Citació

ANDILLA I SALLA, Jordi, et al. Applet of multiple beam interference. [consulted: 14 of August of 2026]. Available at: https://hdl.handle.net/2445/14584

Exportar metadades

JSON - METS

Compartir registre