El Dipòsit Digital ha actualitzat el programari. Qualsevol incidència que trobeu si us plau contacteu amb dipositdigital@ub.edu.

 
Miniatura

Fitxers

MT07 - Atomic Force Microscopy_ed2.pdf (2.51 MB)

Tipus de document

Part del llibre

Versió

Versió publicada

Data de publicació

2012
Si us plau utilitzeu sempre aquest identificador per citar o enllaçar aquest document: https://hdl.handle.net/2445/32162

Atomic force microscopy: probing the nanoworld

Títol de la revista

Autors

ISSN de la revista

Títol del volum

Resum

Atomic Force Microscope and related techniques have played a key role in the development of the nanotechnology revolution that is taking place in science. This paper reviews the basic principles behind the technique and its different operation modes and applications, pointing out research works performed in the Nanometric Techniques Unit of the CCiTUB in order to exemplify the vast array of capabilities of these instruments.

Descripció

Podeu consultar el llibre complet a: http://hdl.handle.net/2445/32166

Matèries

Microscòpia de força atòmica, Nanotecnologia, Anàlisi instrumental

Matèries (anglès)

Atomic force microscopy, Nanotechnology, Instrumental analysis

Citació

Col·leccions

Llibres / Capítols de llibre (Centres Científics i Tecnològics de la Universitat de Barcelona (CCiTUB))

Citació

ONCINS MARCO, Gerard, DÍAZ MARCOS, Jordi. Atomic force microscopy: probing the nanoworld. _Capítol del llibre: Handbook of instrumental techniques for materials_. chemical and biosciences research. Vol. Universitat de Barcelona, núm. Barcelona, pàgs. Part I. [consulta: 25 de novembre de 2025]. [Disponible a: https://hdl.handle.net/2445/32162]

Exportar metadades

JSON - METS

Compartir registre