Amb motiu del tancament d'estiu, la validació de documents es reprendrà a partir del 28 d'agost de 2026. Disculpeu les molèsties.
Con motivo del cierre de verano, la validación de documentos se reanudará a partir del 28 de agosto de 2026. Disculpad las molestias
Due to the summer closure, document validation will resume starting August 28, 2026. We apologize for any inconvenience.

Atomic force microscopy: probing the nanoworld

Vista senzilla d'ítem
dc.contributor.authorOncins Marco, Gerard
dc.contributor.authorDíaz Marcos, Jordi
dc.date.accessioned2012-10-01T08:20:05Z
dc.date.available2012-10-01T08:20:05Z
dc.date.issued2012
dc.descriptionPodeu consultar el llibre complet a: http://hdl.handle.net/2445/32166
dc.description.abstractAtomic Force Microscope and related techniques have played a key role in the development of the nanotechnology revolution that is taking place in science. This paper reviews the basic principles behind the technique and its different operation modes and applications, pointing out research works performed in the Nanometric Techniques Unit of the CCiTUB in order to exemplify the vast array of capabilities of these instruments.eng
dc.format.extent10 p.
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/2445/32162
dc.language.isoengeng
dc.publisherCentres Científics i Tecnològics. Universitat de Barcelonacat
dc.relation.isformatofReproducció del document original
dc.relation.ispartofCapítol del llibre: Handbook of instrumental techniques for materials, chemical and biosciences research, Centres Científics i Tecnològics. Universitat de Barcelona, Barcelona, 2012. Part I. Materials technologies (MT), MT.7, 10 p.
dc.relation.urihttp://hdl.handle.net/2445/32166
dc.rights(c) Universitat de Barcelona, 2012
dc.rights.accessRightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesseng
dc.sourceLlibres / Capítols de llibre (Centres Científics i Tecnològics de la Universitat de Barcelona (CCiTUB))
dc.subject.classificationMicroscòpia de força atòmicacat
dc.subject.classificationNanotecnologiacat
dc.subject.classificationAnàlisi instrumentalcat
dc.subject.otherAtomic force microscopyeng
dc.subject.otherNanotechnologyeng
dc.subject.otherInstrumental analysiseng
dc.titleAtomic force microscopy: probing the nanoworldeng
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/bookParteng
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersion

Fitxers

Paquet original

Mostrant 1 - 1 de 1
Miniatura
Nom:
MT07 - Atomic Force Microscopy_ed2.pdf
Mida:
2.51 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Descarregar

Col·leccions

Llibres / Capítols de llibre (Centres Científics i Tecnològics de la Universitat de Barcelona (CCiTUB))