El Dipòsit Digital ha actualitzat el programari. Qualsevol incidència que trobeu si us plau contacteu amb dipositdigital@ub.edu.

 
Miniatura

Fitxers

MT05 - Advanced applications of SEM_ed2.pdf (2.16 MB)

Tipus de document

Part del llibre

Versió

Versió publicada

Data de publicació

2012
Si us plau utilitzeu sempre aquest identificador per citar o enllaçar aquest document: https://hdl.handle.net/2445/32147

Advanced applications of scanning electron microscopy in geology

Títol de la revista

Autors

ISSN de la revista

Títol del volum

Resum

Nowadays Scanning Electron Microscopy (SEM) is a basic and fundamental tool in the study of geologic samples. The collision of a highlyaccelerated electron beam with the atoms of a solid sample results in the production of several radiation types than can be detected and analysed by specific detectors, providing information of the chemistry and crystallography of the studied material. From this point of view, the chamber of a SEM can be considered as a laboratory where different experiments can be carried out. The application of SEM to geology, especially in the fields of mineralogy and petrology has been summarised by Reed (1996).The aim of this paper is to show some recent applications in the characterization of geologic materials.

Descripció

Podeu consultar el llibre complet a: http://hdl.handle.net/2445/32166

Matèries

Microscòpia electrònica d'escombratge, Geologia, Anàlisi instrumental

Matèries (anglès)

Scanning electron microscopy, Geology, Instrumental analysis

Citació

Col·leccions

Llibres / Capítols de llibre (Centres Científics i Tecnològics de la Universitat de Barcelona (CCiTUB))

Citació

GARCÍA VEIGAS, Francisco javier, PRATS MIRALLES, Eva, DOMÍNGUEZ XIMÉNEZ, Anna, VILLUENDAS LATORRE, Aránzazu. Advanced applications of scanning electron microscopy in geology. _Capítol del llibre: Handbook of instrumental techniques for materials_. chemical and biosciences research. Vol. Universitat de Barcelona, núm. Barcelona, pàgs. Part I. [consulta: 25 de novembre de 2025]. [Disponible a: https://hdl.handle.net/2445/32147]

Exportar metadades

JSON - METS

Compartir registre