Amb motiu del tancament d'estiu, la validació de documents es reprendrà a partir del 28 d'agost de 2026. Disculpeu les molèsties.
Con motivo del cierre de verano, la validación de documentos se reanudará a partir del 28 de agosto de 2026. Disculpad las molestias
Due to the summer closure, document validation will resume starting August 28, 2026. We apologize for any inconvenience.

Tipus de document

Article

Versió

Versió publicada

Data de publicació

Tots els drets reservats

Si us plau utilitzeu sempre aquest identificador per citar o enllaçar aquest document: https://hdl.handle.net/2445/124830

Spectroscopic ellipsometry study of Cu2ZnSnSe4 bulk crystals

Títol de la revista

Director/Tutor

ISSN de la revista

Títol del volum

Resum

Using spectroscopic ellipsometry we investigated and analyzed the pseudo-optical constants of Cu2ZnSnSe4 bulk crystals, grown by the Bridgman method, over 0.8-4.5 eV photon energy range. The structures found in the spectra of the complex pseudodielectric functions were associated to E0, E1A, and E1B interband transitions and were analyzed in frame of the Adachi's model. The interband transition parameters such as strength, threshold energy, and broadening were evaluated by using the simulated annealing algorithm. In addition, the pseudo-complex refractive index, extinction coefficient, absorption coefficient, and normal-incidence reflectivity were derived over 0.8-4.5 eV photon energy range

Matèries (anglès)

Citació

Citació

LEÓN, Máximo, et al. Spectroscopic ellipsometry study of Cu2ZnSnSe4 bulk crystals. Applied Physics Letters. 2014. Vol. 105, num. 061909-1-061909-4. ISSN 0003-6951. [consulted: 4 of August of 2026]. Available at: https://hdl.handle.net/2445/124830

Exportar metadades

JSON - METS

Compartir registre