Miniatura

Fitxers

645135.pdf (1.98 MB)

Tipus de document

Article

Versió

Versió publicada

Data de publicació

2014-08-15

Tots els drets reservats

Si us plau utilitzeu sempre aquest identificador per citar o enllaçar aquest document: https://hdl.handle.net/2445/124830

Spectroscopic ellipsometry study of Cu2ZnSnSe4 bulk crystals

Títol de la revista

Autors

Director/Tutor

ISSN de la revista

Títol del volum

Recurs relacionat

https://doi.org/10.1063/1.4892548

Resum

Using spectroscopic ellipsometry we investigated and analyzed the pseudo-optical constants of Cu2ZnSnSe4 bulk crystals, grown by the Bridgman method, over 0.8-4.5 eV photon energy range. The structures found in the spectra of the complex pseudodielectric functions were associated to E0, E1A, and E1B interband transitions and were analyzed in frame of the Adachi's model. The interband transition parameters such as strength, threshold energy, and broadening were evaluated by using the simulated annealing algorithm. In addition, the pseudo-complex refractive index, extinction coefficient, absorption coefficient, and normal-incidence reflectivity were derived over 0.8-4.5 eV photon energy range

Matèries

Cristal·lografia, El·lipsometria

Matèries (anglès)

Crystallography, Ellipsometry

Citació

Col·leccions

Articles publicats en revistes (Enginyeria Electrònica i Biomèdica)

Citació

LEÓN, Máximo, LEVCENKO, Sergiu, SERNA, Rosalía, BODNAR, Ivan v., NATEPROV, A., GUC, Maxim, GURIEVA, G., LOPEZ, N., MERINO, José manuel, CABALLERO, Raquel, SCHORR, S., PÉREZ RODRÍGUEZ, Alejandro, ARUSHANOV, Ernest. Spectroscopic ellipsometry study of Cu2ZnSnSe4 bulk crystals. _Applied Physics Letters_. 2014. Vol. 105, núm. 061909-1-061909-4. [consulta: 30 de gener de 2026]. ISSN: 0003-6951. [Disponible a: https://hdl.handle.net/2445/124830]

Exportar metadades

JSON - METS

Compartir registre