Miniatura

Fitxers

505505.pdf (86.76 KB)

Tipus de document

Article

Versió

Versió publicada

Data de publicació

2003

Tots els drets reservats

Si us plau utilitzeu sempre aquest identificador per citar o enllaçar aquest document: https://hdl.handle.net/2445/24296

Use of information on the manufacture of samples for the optical characterization of multilayers through a global optimization

Títol de la revista

Autors

Director/Tutor

ISSN de la revista

Títol del volum

Recurs relacionat

http://dx.doi.org/10.1364/AO.42.001325

Resum

We present a procedure for the optical characterization of thin-film stacks from spectrophotometric data. The procedure overcomes the intrinsic limitations arising in the numerical determination of many parameters from reflectance or transmittance spectra measurements. The key point is to use all the information available from the manufacturing process in a single global optimization process. The method is illustrated by a case study of solgel applications.

Matèries

Òptica electrònica

Matèries (anglès)

Electron optics

Citació

Col·leccions

Articles publicats en revistes (Física Aplicada)

Citació

SANCHO I PARRAMON, Jordi, FERRÉ BORRULL, Josep, BOSCH I PUIG, Salvador, FERRARA, Maria christina. Use of information on the manufacture of samples for the optical characterization of multilayers through a global optimization. _Applied Optics_. 2004. Vol. 42, núm. 7, pàgs. 1325-1329. [consulta: 24 de gener de 2026]. ISSN: 0003-6935. [Disponible a: https://hdl.handle.net/2445/24296]

Exportar metadades

JSON - METS

Compartir registre