Fitxers
Tipus de document
ArticleVersió
Versió acceptadaData de publicació
Tots els drets reservats
Si us plau utilitzeu sempre aquest identificador per citar o enllaçar aquest document: https://hdl.handle.net/2445/124954
Dielectric characterization of multiferroic magnetoelectric double-perovskite Y(Ni0.5Mn0.5)O3 thin films
Títol de la revista
Director/Tutor
ISSN de la revista
Títol del volum
Recurs relacionat
Resum
We report on functional properties of Y(Ni0.5Mn0.5)O3 epitaxial thin films, growth by pulsed laser deposition, observing clear features of its ferroelectric and ferromagnetic nature at cryogenic temperature. Temperature-dependent complex impedance spectroscopy (IS) characterization has shown a dielectric anomaly around the ferromagnetic Curie temperature ( 100 K) indicative of coupling between magnetic and electric orders.
Matèries (anglès)
Citació
Col·leccions
Citació
COY, L. E., et al. Dielectric characterization of multiferroic magnetoelectric double-perovskite Y(Ni0.5Mn0.5)O3 thin films. Applied Physics Letters. 2016. Vol. 109, num. 15, pags. 152901-1-152901-5. ISSN 0003-6951. [consulted: 23 of May of 2026]. Available at: https://hdl.handle.net/2445/124954