Amb motiu del tancament d'estiu, la validació de documents es reprendrà a partir del 28 d'agost de 2026. Disculpeu les molèsties.
Con motivo del cierre de verano, la validación de documentos se reanudará a partir del 28 de agosto de 2026. Disculpad las molestias
Due to the summer closure, document validation will resume starting August 28, 2026. We apologize for any inconvenience.

Fitxers

665538.pdf (796.5 KB)

Tipus de document

Article

Versió

Versió acceptada

Data de publicació

2016-10-10

Tots els drets reservats

Si us plau utilitzeu sempre aquest identificador per citar o enllaçar aquest document: https://hdl.handle.net/2445/124954

Dielectric characterization of multiferroic magnetoelectric double-perovskite Y(Ni0.5Mn0.5)O3 thin films

Títol de la revista

Autors

Director/Tutor

ISSN de la revista

Títol del volum

Recurs relacionat

https://doi.org/10.1063/1.4964439

Resum

We report on functional properties of Y(Ni0.5Mn0.5)O3 epitaxial thin films, growth by pulsed laser deposition, observing clear features of its ferroelectric and ferromagnetic nature at cryogenic temperature. Temperature-dependent complex impedance spectroscopy (IS) characterization has shown a dielectric anomaly around the ferromagnetic Curie temperature ( 100 K) indicative of coupling between magnetic and electric orders.

Matèries

Pel·lícules fines, Materials ferromagnètics, Ferromagnetisme, Ferroelectricitat

Matèries (anglès)

Thin films, Ferromagnetic materials, Ferromagnetism, Ferroelectricity

Citació

Col·leccions

Articles publicats en revistes (Física Aplicada)

Citació

COY, L. E., et al. Dielectric characterization of multiferroic magnetoelectric double-perovskite Y(Ni0.5Mn0.5)O3 thin films. Applied Physics Letters. 2016. Vol. 109, num. 15, pags. 152901-1-152901-5. ISSN 0003-6951. [consulted: 19 of August of 2026]. Available at: https://hdl.handle.net/2445/124954

Exportar metadades

JSON - METS

Compartir registre