Miniatura

Fitxers

TFG-Boyer-Lopez-Helena.pdf (271.42 KB)

Tipus de document

Treball de fi de grau

Data de publicació

2017-01

Llicència de publicació

cc-by-nc-nd (c) Boyer, 2017
Si us plau utilitzeu sempre aquest identificador per citar o enllaçar aquest document: https://hdl.handle.net/2445/115049

Characterization of semiconductor detectors for [gamma]-ray and x-ray spectrometry

Títol de la revista

Autors

Director/Tutor

ISSN de la revista

Títol del volum

Recurs relacionat

Resum

Semiconductor detectors are routinely used in [gamma]-ray and x-ray spectrometry. Their characteriza- tion is crucial in order to perform quantitative analysis. Three steps are needed to this end: energy and FWHM calibration and determination of the full-energy peak effciency. In this TFG we have performed these steps for a HPGe detector. We confirmed the very high linearity, excellent energy resolution and high effciency of the studied spectrometer.

Descripció

Treballs Finals de Grau de Física, Facultat de Física, Universitat de Barcelona, Curs: 2017, Tutor: José M. Fernández-Varea

Matèries

Detectors de radiació, Semiconductors, Treballs de fi de grau

Matèries (anglès)

Nuclear counters, Semiconductors, Bachelor's theses

Citació

Col·leccions

Treballs Finals de Grau (TFG) - Física

Citació

BOYER LÓPEZ, Helena. Characterization of semiconductor detectors for [gamma]-ray and x-ray spectrometry. [consulta: 9 de gener de 2026]. [Disponible a: https://hdl.handle.net/2445/115049]

Exportar metadades

JSON - METS

Compartir registre