Miniatura

Fitxers

65710.pdf (353.88 KB)

Tipus de document

Article

Versió

Versió publicada

Data de publicació

1979

Tots els drets reservats

Si us plau utilitzeu sempre aquest identificador per citar o enllaçar aquest document: https://hdl.handle.net/2445/18189

Condiciones críticas de medición en las mediciones cuantitativas de reflectancia. Errores sistemticos

Títol de la revista

Autors

Director/Tutor

ISSN de la revista

Títol del volum

Recurs relacionat

Resum

Se establecen las condiciones criticas que necesariamente tienen que cumplirse cuando se pretende calcular las constantes Opticas (n v k) de un material opaco, mediante las mediciones de reflectancia en dos medios de distinto ndice de refraccion.

Matèries

Difracció, Refracció

Matèries (anglès)

Diffraction, Refraction

Citació

Col·leccions

Articles publicats en revistes (Mineralogia, Petrologia i Geologia Aplicada)

Citació

VENDRELL SAZ, Màrius, LÓPEZ SOLER, Ángel. Condiciones críticas de medición en las mediciones cuantitativas de reflectancia. Errores sistemticos. _Acta Geologica Hispanica_. 1979. Vol. 14, núm. 71-74. [consulta: 24 de gener de 2026]. ISSN: 0567-7505. [Disponible a: https://hdl.handle.net/2445/18189]

Exportar metadades

JSON - METS

Compartir registre