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Please use this identifier to cite or link to this item: https://hdl.handle.net/2445/18189
Condiciones críticas de medición en las mediciones cuantitativas de reflectancia. Errores sistemticos
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Se establecen las condiciones criticas que necesariamente tienen que cumplirse cuando se pretende calcular las constantes Opticas (n v k) de un material opaco, mediante las mediciones de reflectancia en dos medios de distinto ndice de refraccion.
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VENDRELL SAZ, Màrius and LÓPEZ SOLER, Ángel. Condiciones críticas de medición en las mediciones cuantitativas de reflectancia. Errores sistemticos. Acta Geologica Hispanica. 1979. Vol. 14, num. 71-74. ISSN 0567-7505. [consulted: 12 of June of 2026]. Available at: https://hdl.handle.net/2445/18189