Proceso automático para la medida de las reflectancias. 1.-Descripción preliminar

Vista senzilla d'ítem
dc.contributor.authorBesteiro, J.cat
dc.contributor.authorVendrell Saz, Màriuscat
dc.contributor.authorLópez Soler, Ángelcat
dc.contributor.authorBosch Figueroa, J. M.cat
dc.contributor.authorFont-Altaba, M. (Manuel), 1922-2005cat
dc.date.accessioned2011-05-25T10:49:02Z
dc.date.available2011-05-25T10:49:02Z
dc.date.issued1974
dc.description.abstractPara el cálculo de las constantes fsicas n, k, a partir de las medidas de reflectancia en dos medios de índice de refracción conocido y diferente, se necesita emplear criterios estadísticos, lo que obliga a obtener gran cantidad de datos experimentales y por consiguiente el cálculo es muy laborioso. Se describe el método automàtico utilizado para la simplificación de estas operaciones que permiten realizar dichos cálculos en gran rapidez.spa
dc.format.extent2 p.
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.identifier.idgrec65707
dc.identifier.issn0567-7505
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/2445/18182
dc.language.isospaeng
dc.publisherUniversitat de Barcelona (UB). Institut de Cincias de la Terra Jaume Almera (ICTJA)cat
dc.relation.isformatofReproducció del document publicat a http://www.raco.cat/index.php/ActaGeologica/article/view/74834/cat
dc.relation.ispartofActa Geologica Hispanica, 1974, vol. IX, num. 5, p. 149-150cat
dc.rights(c) Besteiro, et al., 1974
dc.rights.accessRightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.sourceArticles publicats en revistes (Mineralogia, Petrologia i Geologia Aplicada)
dc.subject.classificationMicroscòpiacat
dc.subject.classificationRefracciócat
dc.subject.otherMicroscopyeng
dc.subject.otherRefractioneng
dc.titleProceso automático para la medida de las reflectancias. 1.-Descripción preliminarspa
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/article
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersion

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