Miniatura

Fitxers

8226.pdf (264.05 KB)

Tipus de document

Article

Versió

Versió publicada

Data de publicació

1978

Tots els drets reservats

Si us plau utilitzeu sempre aquest identificador per citar o enllaçar aquest document: https://hdl.handle.net/2445/18191

Sistema automático para determinar estructuras cristalinas por difracción de rayos-X

Títol de la revista

Autors

Director/Tutor

ISSN de la revista

Títol del volum

Recurs relacionat

Resum

Se desarrolla en este trabajo un sistema de calculo para la determinación de estructuras cristalinas por difracción de rayos-X. Las caracteristicas de este sistema son: Incorporar los métodos y las técnicas más recientes. Obtener la máxima velocidad de ejecución posible. Obtener la total automatización del proceso. Y conseguir la mínima ocupacion de memoria posible.

Matèries

Estructura cristal·lina (Sòlids), Raigs X, Radiocristal·lografia

Matèries (anglès)

Layer structure (Solids), X-rays, X-ray crystallography

Citació

Col·leccions

Articles publicats en revistes (Mineralogia, Petrologia i Geologia Aplicada)

Citació

SOLANS, Xavier, MIRAVITLLES TORRAS, Carles. Sistema automático para determinar estructuras cristalinas por difracción de rayos-X. _Acta Geologica Hispanica_. 1978. Vol. 13, núm. 3, pàgs. 93-96. [consulta: 25 de febrer de 2026]. ISSN: 0567-7505. [Disponible a: https://hdl.handle.net/2445/18191]

Exportar metadades

JSON - METS

Compartir registre