Amb motiu del tancament d'estiu, la validació de documents es reprendrà a partir del 28 d'agost de 2026. Disculpeu les molèsties.
Con motivo del cierre de verano, la validación de documentos se reanudará a partir del 28 de agosto de 2026. Disculpad las molestias
Due to the summer closure, document validation will resume starting August 28, 2026. We apologize for any inconvenience.

Fitxers

8226.pdf (264.05 KB)

Tipus de document

Article

Versió

Versió publicada

Data de publicació

1978

Tots els drets reservats

Si us plau utilitzeu sempre aquest identificador per citar o enllaçar aquest document: https://hdl.handle.net/2445/18191

Sistema automático para determinar estructuras cristalinas por difracción de rayos-X

Títol de la revista

Autors

Director/Tutor

ISSN de la revista

Títol del volum

Recurs relacionat

Resum

Se desarrolla en este trabajo un sistema de calculo para la determinación de estructuras cristalinas por difracción de rayos-X. Las caracteristicas de este sistema son: Incorporar los métodos y las técnicas más recientes. Obtener la máxima velocidad de ejecución posible. Obtener la total automatización del proceso. Y conseguir la mínima ocupacion de memoria posible.

Matèries

Estructura cristal·lina (Sòlids), Raigs X, Radiocristal·lografia

Matèries (anglès)

Layer structure (Solids), X-rays, X-ray crystallography

Citació

Col·leccions

Articles publicats en revistes (Mineralogia, Petrologia i Geologia Aplicada)

Citació

SOLANS, Xavier and MIRAVITLLES TORRAS, Carles. Sistema automático para determinar estructuras cristalinas por difracción de rayos-X. Acta Geologica Hispanica. 1978. Vol. 13, num. 3, pags. 93-96. ISSN 0567-7505. [consulted: 15 of August of 2026]. Available at: https://hdl.handle.net/2445/18191

Exportar metadades

JSON - METS

Compartir registre