Microscòpia de força atòmica i les seves aplicacions (Seminaris Tecnològics 2013)

dc.contributor.authorBorrell Hernández, Jordi
dc.date.accessioned2016-04-01T15:37:31Z
dc.date.available2016-04-01T15:37:31Z
dc.date.issued2013-05-08
dc.format.extent26 p.
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/2445/96862
dc.language.isocatca
dc.publisherUniversitat de Barcelona. Facultat de Farmàciaca
dc.relation.ispartofSeminaris Tecnològics de Facultat de Farmàcia 2013 (Seminari 2)
dc.rightscc-by-nc-nd (c) Borrell, 2013
dc.rights.accessRightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessca
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
dc.sourceSeminaris Tecnològics (Facultat de Farmàcia i Ciències de l'Alimentació)
dc.subject.classificationMicroscòpia de força atòmicacat
dc.subject.classificationSeminariscat
dc.subject.otherAtomic force microscopyeng
dc.subject.otherSeminarseng
dc.titleMicroscòpia de força atòmica i les seves aplicacions (Seminaris Tecnològics 2013)ca
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjectca

Fitxers

Paquet original

Mostrant 1 - 1 de 1
Carregant...
Miniatura
Nom:
Seminari Tec2_Borrell.pdf
Mida:
6.19 MB
Format:
Adobe Portable Document Format